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基于101.6 mm晶圓35 nm InP HEMT工藝的340 GHz低噪聲放大器芯片研制

固體電子學(xué)研究與進(jìn)展 頁(yè)數(shù): 5 2024-10-25
摘要: 實(shí)現(xiàn)了在101.6 mm InP晶圓上制備35 nm的增強(qiáng)型InP高電子遷移率晶體管。通過(guò)InAs復(fù)合溝道外延結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使得室溫二維電子氣遷移率面密度乘積達(dá)到4.2×1016/(V·s)。采用了鉑鈦鉑金埋柵工藝技術(shù),典型器件最大跨導(dǎo)達(dá)到2 900 mS/mm,電流增益截止頻率達(dá)到460 GHz,最高振蕩頻率為720 GHz。同時(shí)研制出340 GHz低噪聲放大器芯片,在31... (共5頁(yè))

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