基于順序等效采樣的DAC測(cè)試方法設(shè)計(jì)

摘要： 當(dāng)前數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)測(cè)試面臨不能兼顧采樣精度與采樣速率的問(wèn)題，測(cè)試時(shí)通常只能二者選其一，隨著DAC器件的發(fā)展，常規(guī)測(cè)試系統(tǒng)不能滿(mǎn)足當(dāng)前測(cè)試領(lǐng)域需求。針對(duì)采樣速率提升導(dǎo)致系統(tǒng)噪聲提高，最終使采樣系統(tǒng)有效分辨率惡化的問(wèn)題，在分析對(duì)比了當(dāng)前采樣技術(shù)和系統(tǒng)噪聲影響的基礎(chǔ)上，提出了基于順序等效采樣的DAC測(cè)試方法。該方法將高頻的原始信號(hào)在時(shí)間域上展開(kāi)，其核心是制造采樣周期與輸入信號(hào)的... （共7頁(yè)）