軌道交通用大功率IGBT結(jié)電容退化規(guī)律
摘要: 結(jié)電容作為絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)芯片重要寄生參數(shù)之一,與器件開關(guān)動(dòng)態(tài)性能密切相關(guān)。通過(guò)建立IGBT開關(guān)動(dòng)態(tài)數(shù)學(xué)模型,搭建基于IGBT器件級(jí)行為模型的雙脈沖測(cè)試仿真電路,研究了器件內(nèi)部結(jié)電容對(duì)IGBT動(dòng)態(tài)性能的影響規(guī)律和機(jī)理。進(jìn)一步地,對(duì)機(jī)車不同服役時(shí)間的IGBT樣本的結(jié)電容進(jìn)行測(cè)試分析,驗(yàn)證了仿真模型的有效性。結(jié)果表明,IGBT結(jié)電容隨服役時(shí)間增長(zhǎng)均出現(xiàn)一定程度退化,其... (共8頁(yè))
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